因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

時(shí)鐘發(fā)生器檢測(cè)包含以下核心指標(biāo)：

頻率精度：測(cè)量輸出時(shí)鐘與標(biāo)稱值的偏差率（ppm），評(píng)估長期穩(wěn)定性

相位噪聲：分析10Hz至1MHz偏移范圍內(nèi)的頻譜純度

抖動(dòng)特性：測(cè)定周期抖動(dòng)（Cycle Jitter）和周期間抖動(dòng)（Period Jitter）

上升/下降時(shí)間：驗(yàn)證信號(hào)邊沿斜率是否符合接口規(guī)范

占空比容差：量化高電平持續(xù)時(shí)間與周期的比例偏差

電源抑制比（PSRR）：評(píng)估供電波動(dòng)對(duì)輸出特性的影響

溫度漂移：在-40℃至+85℃環(huán)境箱中測(cè)試頻率溫漂系數(shù)

檢測(cè)范圍

本檢測(cè)方案適用于以下應(yīng)用場景：

檢測(cè)方法

頻譜分析法（依據(jù)IEEE 1139標(biāo)準(zhǔn)）

使用低噪放模塊配合頻譜分析儀進(jìn)行信號(hào)采集，通過FFT算法轉(zhuǎn)換時(shí)域波形至頻域數(shù)據(jù)。關(guān)鍵步驟包括：設(shè)置分辨率帶寬（RBW）≤1%載波頻率、視頻帶寬（VBW）≤10%RBW、掃描點(diǎn)數(shù)≥10001。

相位噪聲測(cè)試法（Δf法）

采用雙通道互相關(guān)測(cè)量架構(gòu)消除本底噪聲影響：

1. 將待測(cè)信號(hào)等分為兩路輸入?yún)⒖冀邮諜C(jī)

2. 通過相位檢波器提取相位差信息

3. 使用低通濾波器分離基帶噪聲分量

4. 數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)記錄1Hz~10MHz偏移量曲線

時(shí)域分析法（TIE測(cè)量）

基于實(shí)時(shí)示波器捕獲連續(xù)波形數(shù)據(jù)流：

- 采樣率≥5倍待測(cè)信號(hào)頻率

- 存儲(chǔ)深度≥1Mpts

- 應(yīng)用統(tǒng)計(jì)直方圖計(jì)算峰峰值抖動(dòng)

- 通過Allan方差分析長期穩(wěn)定性指標(biāo)

檢測(cè)儀器

高精度頻譜分析儀

推薦Keysight N9021B MXA系列：

- 頻率范圍：20Hz至50GHz

- DANL：-172dBm/Hz(前置放大器開啟)

- 相位噪聲：-136dBc/Hz@10kHz偏移(1GHz載波)

相位噪聲測(cè)試系統(tǒng)

Rohde & Schwarz FSWP系列特性：

- 本底噪聲：-180dBc/Hz(1GHz,10kHz偏移)

- 支持雙通道互相關(guān)模式

- 內(nèi)置超低噪聲參考源（OCXO）

高速數(shù)字示波器

Tektronix DPO70000SX參數(shù)指標(biāo)：

- 實(shí)時(shí)帶寬：70GHz

- 采樣率：200GS/s

- TIE測(cè)量精度：±500fs RMS

多域分析儀

Anritsu MS2840A集成功能模塊：

- 時(shí)頻域聯(lián)合分析能力

- JEDEC JESD204B協(xié)議解碼

- PCIe Gen5時(shí)鐘恢復(fù)功能

環(huán)境試驗(yàn)箱

ESPEC T系列溫控系統(tǒng)技術(shù)規(guī)格：

- 溫度范圍：-70℃~+180℃

- 變溫速率：15℃/min（升降溫）

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件