中析研究所檢測中心
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中科光析科學技術研究所
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發(fā)布時間:2025-07-03
關鍵詞:粉體粒徑測試方法,粉體粒徑項目報價,粉體粒徑測試案例
瀏覽次數(shù): 5
來源:北京中科光析科學技術研究所
因業(yè)務調整,部分個人測試暫不接受委托,望見諒。
中位徑(D50):表征顆粒群中累積分布50%對應的粒徑值,測量范圍0.1μm~3500μm,分辨率±0.5%。
粒徑分布寬度(Span值):計算(D90-D10)/D50評估分散均勻性,測量精度±1.5%。
比表面積:通過氣體吸附法測定單位質量顆粒總表面積,檢測范圍0.01~2000m2/g。
Zeta電位:采用電泳光散射分析顆粒表面電荷,測量范圍±500mV,溫度控制±0.1℃。
顆粒圓形度:圖像分析法量化輪廓接近正圓程度,精度0.01單位。
孔隙率:壓汞法測定多孔材料空隙容積占比,孔徑檢測范圍3nm~900μm。
堆密度:依據(jù)GB/T 16913標準測量自然堆積狀態(tài)單位體積質量。
振實密度:機械振動后測定最大密實狀態(tài)密度,振幅控制±0.1mm。
流動性指數(shù):通過休止角與流速綜合評估,角度測量誤差±0.5°。
團聚指數(shù):激光散射法識別二次團聚體占比,檢測閾值>100nm。
制藥原料:活性藥物成分(API)粒徑控制影響溶出速率,檢測范圍0.5~150μm。
陶瓷粉體:氧化鋁、碳化硅等燒結原料的粒度分布決定產(chǎn)品致密性。
鋰電池材料:正負極材料粒徑影響比容量和循環(huán)壽命,重點監(jiān)測D10-D90區(qū)間。
涂料顏料:鈦白粉等粒徑分布關聯(lián)遮蓋力與懸浮穩(wěn)定性。
3D打印金屬粉末:球形度與粒徑一致性決定成型件機械強度。
食品添加劑:乳糖微粉流動性檢測確保生產(chǎn)線順暢運行。
催化劑載體:氧化鋯等載體孔徑分布直接影響催化效率。
化妝品粉體:云母粉粒徑檢測控制膚感與光澤度。
磁性材料:釹鐵硼粉末粒度影響磁疇取向度。
水泥摻合料:礦粉細度檢測優(yōu)化混凝土工作性能。
ISO 13320:激光衍射法通用標準,規(guī)定光學模型選擇與驗證流程。
GB/T 19077:粒度分布測定通用規(guī)范,涵蓋干濕法分散要求。
ASTM B822:金屬粉末粒度分布測試標準方法。
ISO 22412:動態(tài)光散射法測量納米顆粒標準。
GB/T 14634:沉淀法白炭黑粒徑檢測方法。
ISO 18747:沉降法測定密度與粒徑分布技術規(guī)范。
GB/T 43523:納米材料Zeta電位測定通則。
ASTM D6393:粉末堆積密度標準測試流程。
ISO 4324:表面活性劑粉體休止角測定。
GB/T 6288:分子篩粒度試驗方法。
激光粒度儀:基于米氏散射理論,測量范圍0.02~2000μm,配備超聲分散模塊。
動態(tài)光散射儀:通過布朗運動分析亞微米顆粒,檢測下限1nm。
電子顯微鏡圖像分析系統(tǒng):提供形貌學數(shù)據(jù),分辨率0.3nm。
比表面積分析儀:采用BET氮吸附原理,孔徑分析范圍0.35~500nm。
振實密度儀:可編程振動頻率50~300次/分鐘,符合ISO 3953標準。
粉末流動性測試儀:集成流速計與傾角平臺,自動計算壓縮度指數(shù)。
離心沉降儀:應用斯托克斯定律分離微細顆粒,檢測范圍0.01~300μm。
電聲法Zeta電位儀:支持高濃度懸浮液直接測量,濃度上限40%v/v。
X射線衍射儀:晶粒尺寸分析,符合Scherrer方程計算原理。
庫爾特計數(shù)器:微孔電阻法測量1~100μm顆粒,精度±2%CV值。
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認檢測用途及項目要求
3、填寫檢測申請表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費用后進行樣品檢測
6、檢測出相關數(shù)據(jù),編寫報告草件,確認信息是否無誤
7、確認完畢后出具報告正式件
8、寄送報告原件