微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
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報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
檢測(cè)領(lǐng)域:
成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-07-09
關(guān)鍵詞:刻錄機(jī)光驅(qū)測(cè)試范圍,刻錄機(jī)光驅(qū)測(cè)試機(jī)構(gòu),刻錄機(jī)光驅(qū)測(cè)試方法
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
激光頭輸出功率:測(cè)量波長(zhǎng)650nm±5nm下的功率穩(wěn)定性,范圍1-10mW,波動(dòng)允許值≤5%
糾錯(cuò)能力測(cè)試:注入C1/C2錯(cuò)誤碼,要求CD介質(zhì)糾錯(cuò)率≥220ECC/sec,DVD介質(zhì)≥2800PIEs
寫(xiě)入策略驗(yàn)證:檢測(cè)Z-CLV/CAV等寫(xiě)入模式切換精度,轉(zhuǎn)速偏差≤0.5%
伺服系統(tǒng)響應(yīng):聚焦伺服響應(yīng)時(shí)間≤0.8ms,循跡伺服精度±0.1μm
數(shù)據(jù)傳輸速率:DVD±R最高寫(xiě)入速度16X(21.6MB/s)時(shí)誤碼率≤1×10??
載入機(jī)構(gòu)耐久:連續(xù)5000次托盤(pán)開(kāi)合測(cè)試,機(jī)械磨損量≤0.02mm
盤(pán)片兼容性驗(yàn)證:覆蓋CD-R/RW、DVD±R/DL、BD-R等8類(lèi)介質(zhì),識(shí)別響應(yīng)時(shí)間≤3.5s
溫度適應(yīng)性:工作溫度5-45℃范圍內(nèi)寫(xiě)入功率波動(dòng)≤3%
振動(dòng)噪聲等級(jí):全速運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)A計(jì)權(quán)聲壓≤35dB(1m距離)
接口協(xié)議符合性:驗(yàn)證SATA 3.0/ USB 3.1傳輸協(xié)議錯(cuò)誤幀率≤0.001%
內(nèi)置式光驅(qū):臺(tái)式電腦用ATAPI/SATA接口設(shè)備,托盤(pán)及吸入式結(jié)構(gòu)驗(yàn)證
外置刻錄設(shè)備:USB/Thunderbolt接口便攜式光驅(qū),重點(diǎn)檢測(cè)接口供電穩(wěn)定性
藍(lán)光刻錄機(jī):支持BDXL四層刻錄(128GB)設(shè)備的熱管理性能評(píng)估
工業(yè)級(jí)光存儲(chǔ)設(shè)備:適用于自動(dòng)化產(chǎn)線的耐粉塵型設(shè)備密封性檢測(cè)
車(chē)載影音系統(tǒng):驗(yàn)證耐沖擊性能(5-500Hz隨機(jī)振動(dòng)下功能維持能力)
醫(yī)用影像存檔設(shè)備:DICOM格式光盤(pán)刻錄完整性驗(yàn)證
檔案管理刻錄機(jī):檢測(cè)M-DISC千年盤(pán)片的專(zhuān)用激光功率校準(zhǔn)
游戲主機(jī)光驅(qū):動(dòng)態(tài)平衡測(cè)試,側(cè)重盤(pán)片高速旋轉(zhuǎn)穩(wěn)定性
超薄型光驅(qū):厚度≤9.5mm設(shè)備的散熱結(jié)構(gòu)效能評(píng)估
光雕刻錄機(jī):LabelFlash/Thermal Printing功能表面溫度分布測(cè)繪
ISO/IEC 16963:2015光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)規(guī)范
GB/T 34950-2017信息技術(shù) 光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器通用規(guī)范
IEC 60908:1999音頻光盤(pán)系統(tǒng)測(cè)量方法
ECMA-379全息通用光盤(pán)機(jī)械性能測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
JIS X 6243:2010藍(lán)光光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器特性測(cè)量方法
GB/T 26256-2010信息技術(shù) 光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器噪聲測(cè)試規(guī)范
ISO/IEC 17344:2009光學(xué)驅(qū)動(dòng)器電磁兼容性要求
ANSI/UL 60950-1信息技術(shù)設(shè)備安全性
GB/T 17618-2015信息技術(shù)設(shè)備抗擾度限值
SJ/T 11442-2012光盤(pán)驅(qū)動(dòng)器伺服控制特性測(cè)試方法
激光功率分析儀:采用硅光電二極管傳感器,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)780-405nm波段功率波動(dòng),分辨率0.01mW
光盤(pán)信號(hào)分析儀:集成EFM+解碼電路,檢測(cè)8-16調(diào)制信號(hào)眼圖張開(kāi)度,采樣率4GS/s
伺服特性測(cè)試臺(tái):多維位移平臺(tái)配合激光干涉儀,測(cè)量聚焦/循跡伺服定位精度至0.05μm
環(huán)境模擬艙:溫控范圍-10~60℃,濕度10-90%RH,進(jìn)行熱沖擊試驗(yàn)
高速轉(zhuǎn)矩傳感器:動(dòng)態(tài)測(cè)量主軸電機(jī)啟停扭矩,量程0.01-500mN·m,精度±0.5%
振動(dòng)頻譜分析儀:三軸加速度傳感,捕捉5-2000Hz頻率域機(jī)械共振點(diǎn)
協(xié)議分析儀:支持SATA Gen3/USB3.2協(xié)議解碼,錯(cuò)誤注入測(cè)試能力
聲學(xué)消聲室:背景噪聲≤15dB(A),配備精密麥克風(fēng)陣列進(jìn)行噪聲源定位
盤(pán)片反射率測(cè)試儀:635nm/780nm雙波長(zhǎng)掃描,反射率測(cè)量精度±2%
熱成像系統(tǒng):紅外分辨率320×240,實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)激光頭及驅(qū)動(dòng)IC表面溫度分布
1、咨詢(xún):提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件