因業(yè)務(wù)調(diào)整，部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托，望見諒。

檢測(cè)項(xiàng)目

表面形貌測(cè)量：獲取表面三維拓?fù)鋱D像，檢測(cè)參數(shù)包括掃描范圍100nm至100μm、垂直分辨率0.1nm、橫向分辨率1nm。

表面粗糙度分析：計(jì)算算術(shù)平均粗糙度Ra和均方根粗糙度Rq，檢測(cè)參數(shù)Ra范圍0.1nm至10μm、Rq精度±5%。

原子級(jí)重構(gòu)檢測(cè)：識(shí)別表面原子排列變化和晶格重構(gòu)，檢測(cè)參數(shù)包括原子間距測(cè)量精度0.01nm、重構(gòu)區(qū)域尺寸1nm2至1μm2。

缺陷分析：檢測(cè)表面劃痕、凹坑和污染物，檢測(cè)參數(shù)缺陷尺寸分辨率2nm、深度測(cè)量范圍0.1nm至1μm。

力學(xué)性能測(cè)量：通過納米壓痕評(píng)估彈性模量和硬度，檢測(cè)參數(shù)壓痕力范圍1nN至10μN(yùn)、模量精度±10%。

粘附力測(cè)量：量化表面粘附特性，檢測(cè)參數(shù)力測(cè)量范圍10pN至100nN、粘附能計(jì)算誤差±5%。

摩擦力測(cè)量：使用橫向力模式分析表面摩擦系數(shù)，檢測(cè)參數(shù)橫向力分辨率0.1nN、掃描速度0.1Hz至10Hz。

電學(xué)性能測(cè)量：導(dǎo)電原子力顯微鏡模式測(cè)量表面電導(dǎo)率，檢測(cè)參數(shù)電流測(cè)量范圍1fA至1μA、電壓偏置±10V。

磁性測(cè)量：磁性力顯微鏡模式表征磁疇結(jié)構(gòu)，檢測(cè)參數(shù)磁場(chǎng)靈敏度10mT、空間分辨率10nm。

化學(xué)組成分析：結(jié)合光譜附件進(jìn)行表面元素映射，檢測(cè)參數(shù)光譜范圍400cm?1至4000cm?1、元素檢出限0.1at%.

檢測(cè)范圍

半導(dǎo)體材料：硅晶圓、砷化鎵等表面形貌和缺陷檢測(cè)。

納米材料：碳納米管、石墨烯的表面原子結(jié)構(gòu)和力學(xué)性能分析。

金屬材料：銅、鋁等金屬表面的粗糙度和腐蝕表征。

聚合物材料：高分子薄膜的表面形貌和粘附特性評(píng)估。

生物材料：細(xì)胞膜表面、蛋白質(zhì)層的拓?fù)浜土W(xué)測(cè)量。

陶瓷材料：氧化鋁、氮化硅陶瓷的表面缺陷和粗糙度分析。

復(fù)合材料：碳纖維增強(qiáng)聚合物界面形貌和粘附力檢測(cè)。

光學(xué)材料：透鏡、鏡面的表面質(zhì)量和平整度評(píng)估。

能源材料：鋰離子電池電極表面的形貌和電學(xué)性能測(cè)量。

微電子器件：集成電路表面的污染和缺陷識(shí)別。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

ISO 25178-2:2012表面紋理區(qū)域參數(shù)定義和測(cè)量程序。

ASTM E2538-10原子力顯微鏡標(biāo)準(zhǔn)指南 for 表面形貌分析。

GB/T 19600-2004表面粗糙度參數(shù)及其數(shù)值計(jì)算方法。

ISO 14577-1:2015材料硬度納米壓痕測(cè)試方法。

GB/T 31227-2014原子力顯微鏡校準(zhǔn)規(guī)范 for 表面測(cè)量。

ASTM D6186-98表面能測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)實(shí)踐。

ISO 10993-22醫(yī)療器械表面特性生物學(xué)評(píng)價(jià)。

GB/T 43309-2023納米材料表面形貌測(cè)量通則。

檢測(cè)儀器

原子力顯微鏡：高分辨率表面成像儀器，用于形貌測(cè)量、力學(xué)性能測(cè)試和原子級(jí)重構(gòu)分析。

掃描探針顯微鏡：多功能表面分析儀器，支持形貌、電學(xué)和磁性測(cè)量模式。

表面輪廓儀：輔助表面粗糙度測(cè)量?jī)x器，提供二維和三維輪廓數(shù)據(jù)。

納米壓痕儀：專用力學(xué)測(cè)試儀器，用于表面硬度和彈性模量定量分析。

光譜分析附件：化學(xué)組成檢測(cè)儀器，實(shí)現(xiàn)表面元素分布和化學(xué)鍵 mapping。

檢測(cè)流程

1、咨詢：提品資料(說明書、規(guī)格書等)

2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求

3、填寫檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)

4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測(cè))

5、收到樣品，安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)

6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù)，編寫報(bào)告草件，確認(rèn)信息是否無誤

7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件

8、寄送報(bào)告原件