中析研究所檢測中心
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中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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發(fā)布時(shí)間:2025-05-12
關(guān)鍵詞:氧化鋁成分檢測范圍,氧化鋁成分檢測案例,氧化鋁成分檢測方法
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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測試暫不接受委托,望見諒。
氧化鋁成分檢測體系包含三大類共12項(xiàng)核心指標(biāo):主成分分析要求精確測定Al?O?含量(≥98.5%-99.99%),雜質(zhì)元素檢測涵蓋SiO?(0.005%-0.15%)、Fe?O?(0.005%-0.1%)、Na?O(0.1%-0.6%)等關(guān)鍵指標(biāo);物理性能測試包括灼燒減量(≤1.5%)、松裝密度(0.8-1.2g/cm3)、粒度分布(D50:20-150μm)及α相轉(zhuǎn)化率(≥95%)等重要參數(shù)。
本檢測方案適用于:1) 冶金級(jí)氧化鋁(電解鋁原料),重點(diǎn)控制SiO?/Fe?O?比值及鈉含量;2) 化學(xué)品氧化鋁(催化劑載體),需精確測定比表面積及孔結(jié)構(gòu)參數(shù);3) 耐火材料用氧化鋁粉體,要求嚴(yán)格監(jiān)控α-Al?O?相含量;4) 電子陶瓷原料中的高純氧化鋁(4N級(jí)),需檢測B、Li等痕量雜質(zhì);5) 研磨介質(zhì)用煅燒氧化鋁的莫氏硬度及耐磨系數(shù)。
依據(jù)GB/T 6609系列標(biāo)準(zhǔn)及ISO 806:2004國際規(guī)范:主成分測定采用X射線熒光光譜法(XRF)結(jié)合熔片制樣技術(shù);痕量元素分析使用電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(ICP-OES)和原子吸收光譜法(AAS);灼燒減量按GB/T 6609.3-2004進(jìn)行950℃恒重測試;α相轉(zhuǎn)化率通過X射線衍射(XRD)Rietveld全譜擬合法計(jì)算;粒度分布執(zhí)行ISO 13320:2020激光衍射法。
標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室應(yīng)配置:1) 波長色散型XRF光譜儀(Rh靶,4kW),配備自動(dòng)熔樣機(jī)及鉑金坩堝;2) ICP-OES系統(tǒng)含軸向觀測及碰撞反應(yīng)池技術(shù);3) 高溫電阻爐(最高溫度1300℃±10℃);4) 全自動(dòng)激光粒度分析儀(測量范圍0.02-2000μm);5) X射線衍射儀(Cu靶,40kV/40mA);6) 電子天平(精度0.0001g);7) 恒溫恒濕樣品預(yù)處理室(溫度23±2℃,濕度50±5%)。所有設(shè)備均需通過CNAS校準(zhǔn)并建立三級(jí)維護(hù)體系。
1、咨詢:提品資料(說明書、規(guī)格書等)
2、確認(rèn)檢測用途及項(xiàng)目要求
3、填寫檢測申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門取樣/檢測)
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測
6、檢測出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件